DIN EN 62024-1:2008-10

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Induktive Hochfrequenz-

Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 62024-1:2003-03 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
- Die Größe 0402 wurde in Tabelle 1 und Tabelle 2 hinzugefügt,
- Abschnitt 4.4. wurde zur besseren Verständlichkeit inhaltlich überarbeitet,
- Festlegung zur Offen-Kompensation in 3.1.4.2 wurde korrigiert.

Beziehungen

Ersatz für:

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01.03.2003 Historisch

DIN EN 62024-1:2003-03

Induktive Hochfrequenz-Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich; (IEC 62024-1:2002); Deutsche Fassung EN 62024-1:2002

Enthält:

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07.05.2008 Historisch

EN 62024-1:2008-05

Induktive Hochfrequenz-Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich

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25.02.2008 Historisch

IEC 62024-1:2008-02

Induktive Hochfrequenz-Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich

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09.07.2008 Historisch

IEC 62024-1:2008/COR1:2008-07

Corrigendum 1: Induktive Hochfrequenz-Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich

Entwurf war:

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01.05.2007 Historisch

E DIN IEC 62024-1:2007-05

Induktive Hochfrequenz-Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich (IEC 51/881/CD:2006)

Ersetzt bzw. ergänzt:

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01.02.2017 Historisch

E DIN EN 62024-1:2017-02

Induktive Hochfrequenz-Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich (IEC 51/1153/CD:2016)

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01.02.2019 Aktuell

DIN EN IEC 62024-1:2019-02

Induktive Hochfrequenz-Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich (IEC 62024-1:2017); Deutsche Fassung EN IEC 62024-1:2018